XF802-P30厚度表用来测量薄膜，纸张，塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用，测量表面处理后的表面粗糙度。
执行标准: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5
技术指标：
仪器型号 | XF802-P30 |
测量范围 | 0-1000 μm |
显 示 | 1 μm |
仪器尺寸 | 125*95*25 mm |
重 量 | 270 g |
装 箱 单 | SP300主机, 说明书和合格证 |
XF802-P30 薄膜/纸张厚度表
2022-04-27 14:42 已有
人浏览 F1
分类防护用品
产品薄膜/纸张厚度表
型号XF802-P30
企业北京百富论坛bfball科技有限公司
价格电询
产地北京
厚度表用来测量薄膜，纸张，塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用，测量表面处理后的表面粗糙度。...
XF802-Y19 压痕机/压痕仪 
XF802-ZYZJ3 数显式自救器正压气密检测仪 
XF802-W460 气密性化学防护服 化学防护服 
XF802- Al2O3 刚玉研钵 陶瓷研钵 